產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗(yàn)測試儀
GDW-250電阻高溫度特性測試試驗(yàn)臺
NLD-AI全自動高壓漏電起痕試驗(yàn) 漏電測試儀
GEST-121體積表面電阻測定儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測試儀
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測量儀
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
FTDZ-I粉末電阻率測試儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測試儀
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
PMQS-I新款國產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測試儀
NDH-B耐電弧試驗(yàn)儀-微機(jī)控制
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心電學(xué)性能檢測儀器1500-薄膜電弱點(diǎn)測試儀GCDRD-1500薄膜電弱點(diǎn)測試儀
薄膜電弱點(diǎn)測試儀
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | 冠測儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
薄膜電弱點(diǎn)測試儀
GCDRD-1500
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜 第2部分試驗(yàn)方法
產(chǎn)品用途：
薄膜電弱點(diǎn)測試儀-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。
本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計(jì)電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計(jì)算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。
本儀器自動化程度高，操作簡單、安裝卷膜方便、落地式結(jié)構(gòu)方便操作。
結(jié)構(gòu)組成：
1、升壓部件：由調(diào)壓器和高壓變壓器組成0～10KV的升壓部分。
2、動 部 件：通過調(diào)壓裝置勻速升壓到設(shè)定的電壓值。
3、檢測部件：由集成電路組成的測量電路，實(shí)時檢測測量數(shù)據(jù)傳給計(jì)算機(jī)。
4、計(jì)算機(jī)軟件：通過智能電路把由檢測設(shè)備采集的測控信號傳給計(jì)算機(jī)。計(jì)算機(jī)根據(jù)采集的信息控制設(shè)備運(yùn)行并處理試驗(yàn)結(jié)果。
5、收卷放卷：固定卷膜并按照設(shè)定的速度旋轉(zhuǎn)運(yùn)動
設(shè)備工作原理:
本測試儀試驗(yàn)電壓是0－10KV直流電壓，其波動為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以2m-5m /min的速度移動,薄膜弱點(diǎn)時擊穿，擊穿點(diǎn)自動累積計(jì)數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計(jì)數(shù)。
優(yōu)勢特點(diǎn)：
1、操作簡單:放卷收卷固定后，點(diǎn)開始自動測試
2、動態(tài)顯示：在薄膜擊穿后，同步動態(tài)顯示曲線，直觀可視
3、安裝方便：把模卷放入氣漲軸，通氣自動固定
4、張力可調(diào)：同能實(shí)時調(diào)節(jié)收卷、放卷的張力
5、多種模式：測試面積/測試長度/測試時間
6、擊穿點(diǎn)判定：實(shí)時記錄電弱點(diǎn)與測試長度的數(shù)據(jù)，可以統(tǒng)計(jì)查詢電弱點(diǎn)之間的長度
7、自動存儲：試驗(yàn)介紹后自動彈窗提示存儲數(shù)據(jù)
8、智能自動：本機(jī)智能化、自動化程度高，無需專業(yè)培訓(xùn)，即可操作
上一個：
返回列表
